鴻海表示,研究團隊提高了第四代半導體氧化鎵(Ga2O3)在高壓、高溫應用領域的高壓耐受性能,並已發表於國際頂級材料科學期刊Materials Today Advances(MATER TODAY ADV)。
第四代半導體氧化鎵(Ga2O3)因其優異的性能,被視為下一代半導體材料的代表。此次鴻海研究院與陽明交大電子所通力合作,以創新的離子佈植技術成功製造出具備優異電性表現的氧化鎵PN二極體(PN diode)。利用磷離子佈植和快速熱退火技術實現了第四代半導體P型Ga2O3的製造,並在其上重新生長N型和N+型Ga2O3,形成了PN Ga2O3二極體。這一突破性技術除了能大幅提升元件的穩定性和可靠性,並顯著降低電阻。
鴻海表示,氧化鎵元件將有望成為具有競爭力的電力電子元件,能直接與碳化矽元件競爭。目前,中國、日本和美國在氧化鎵研究領域處於領先地位。日本已實現 4 英寸和 6 英寸氧化鎵晶圓的產業化,而中國多家科研機構和企業也在積極推進相關研究與產品開發。
